Keysight Technologies 與 WIN Semiconductors 聯手推出一個聯合設計工作流程，旨在幫助氮化鎵 (GaN) 單片微波集成電路 (MMIC) 開發者在首次嘗試中成功製造芯片，從而減少昂貴的重新設計和延誤。這個整合的工作流程結合了芯片內部模擬、3D 佈局驗證及芯片外部評估板設計於一個單一環境中。該流程專為開發用於 5G 基礎設施、Wi-Fi 接入點、衞星有效載荷及防禦雷達系統的 GaN MMIC 的公司設計。
一次失敗的設計提交可能會使項目延遲數週，因為工程師需要修改設計並重新提交給半導體代工廠。新的工作流程自動化了製造前的模擬、優化和驗證步驟，幫助設計師在開發過程中更早識別潛在問題。
這些公司表示，該工作流程將 Keysight 的設計軟件與 WIN Semiconductors 最新的 NP 120P GaN 工藝設計套件 (PDK) 連接起來，使工程師可以在發送製造之前驗證芯片設計。MMIC 設計師在製造後還面臨另一個挑戰：證明芯片在實際評估板上安裝時的性能符合預期。新的工作流程允許工程師共同設計和優化芯片、封裝、印刷電路板 (PCB) 及測試連接器。
根據這些公司，這提供了在客户評估硬件之前對真實系統性能更好的理解。
此公告正值 GaN 射頻設備的需求在通信、航空航天及國防市場持續增長。這些公司引用的預測顯示，全球 GaN 射頻設備市場到 2031 年可能達到 27.7 億美元，這進一步增加了芯片開發者縮短設計週期和避免製造錯誤的壓力。WIN 的 NP 120P GaN PDK 提供了 Keysight 的高級設計系統 (ADS) 和 RF 電路模擬專業版內的製程模型和佈局規則，使設計師能夠在統一的設計環境中完成驗證。
整合平台提升設計效率
WIN Semiconductors 設計服務總監 Richard Kuo 表示：「我們很高興能與 Keysight 合作，提供一個定製的 LVS 解決方案，並整合在 WIN ADS PDK 內。通過結合 Keysight 的 ADS 專業知識與 WIN 的強大 PDK 及先進工藝技術，我們提供了一個全面的驗證解決方案，簡化了客户的設計流程並提升了高級 RF 產品的市場上市速度及可靠性。」
這個整合的工作流程旨在減少對單獨軟件工具的需求，通過將芯片設計與評估板開發連接於一個過程中，使工程師能夠在承諾製造之前優化芯片內部及外部組件。
Keysight 的設計工程軟件部總經理 Nilesh Kamdar 表示：「WIN 完整的 PDK 結合 Keysight 的模擬和驗證工具，為設計師提供了一條從芯片設計到評估板的單一路徑。設計公司現在可以在製造之前證明整個系統性能，讓他們的客户有信心進行投資。」這些公司表示，該工作流程旨在提高設計效率，同時幫助客户降低風險，加快 GaN 基射頻產品在通信、衞星及國防應用的交付速度。
項目 規格 處理器 NP 120P GaN 連接性 5G, Wi-Fi